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750179 產品規格書

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750179 產品規格書

產品信息

OptoFlat 高精度低相位干涉儀

產品編號：750179

OptoFlat高精度低相位干涉儀

OptoFlat是行業內獨有的低成本、高穩定性、高剛性以及結構緊湊的平面專用低相干干涉儀。其采用低相干性長壽命的633nm的LED光源，波長帶寬1nm。在測量透明材質的雙面平行光學原件的單個表面面型時不會受到其他表面的干涉條紋影響，所以OptoFlat可以排除來自多個表面的干擾，直接測得目標表面的面型精度。對于測量實心玻璃棱鏡的前表面面型時也可以抑制其他反射面的影響的。

產品應用

測量拋光光學表面的面型和透射波前

產品特點

自動光強調節與FlexFlatTM傳輸平臺相結合，減少了操作人員在測量時的干預

無需反復測量，無需掃描測試位置

與其他基于激光的Fizeau干涉儀不同，OptoFlat集成了長壽命的LED光源

內置專有的PurePhaseTM方法提升了在不穩定的振動環境中的干涉相位測量

校準過的低畸變1X和4X光學放大倍率的比例尺準確的測試面積尺寸，可自動標記或用戶定義有效通光孔徑，便于判定測試合格/不合格

簡單易用的測試軟件界面便于光學原件的批量測試，使任何人只要稍加培訓就可以輕松測試多樣的光學原件，專業的樣品承載臺可快速批量測試每個零件。非接觸式傳感器開始測量并能快速分析判斷產品合格/不合格

設計簡潔，占地小，沒有雜亂的電纜，只有交流電源和USB電纜到電腦

規格參數

產品編號	750179
產品型號	OptoFlat
放大倍率	1×放大倍率	4×放大倍率
有效測量區域	Φ101.6mm	Φ25.4mm
相機分辨率	1200×1200pixels	1920×1200pixels
相機頻率	40Hz	40Hz
空間采樣	88μm/pixel	22μm/pixel
畸變	0.08%	0.05%
景深	+/-12.6mm	+/-2.2mm
RMS測量精度	0.1nm
RMS重復性	0.03nm
波長	633nm,1nm FWHM
相干深度	300μm
工作距離	90mm
傾斜調整范圍	+/-2°
平移調整范圍	+/-8mm
樣品承載臺	175×175mm
軸向移動范圍	65mm連續移動，100mm拆掉墊圈
最大被測樣品	100mm厚，5kg重

聯合光科技（北京）有限公司 · 一站式光學器件現貨供應商

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